1. High performance memory testing
پدیدآورنده: / R. Dean Adams
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Semiconductor storage devices--Testing,Computer storage devices--Testing
رده :
TK
,
7895
,.
M4
,
A27
,
2003
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
2. High performance memory testing
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Semiconductor storage devices ; Testing. ; Computer storage devices ; Testing. ;
![](/design/images/bookmore.png)
3. Proceedings
پدیدآورنده: International Test Conference
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Computer storage devices-- Congresses,، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)